1.一种太赫兹波波长检测装置，其特征在于，其包括；一太赫兹接收装置，其用于接收太赫兹波；一调制装置，其用于调制太赫兹波，所述调制装置包括一碳纳米管结构，且该碳纳米管结构包括多个沿同一方向定向延伸的碳纳米管；一与该调制装置连接的移动装置，其用于控制所述调制装置，使该调制装置设置于该太赫兹波接收装置的入射面上或偏离该入射面；以及一与该太赫兹波接收装置连接的计算机，所述计算机内部存储有太赫兹波对该碳纳米管结构的穿透率与波数的关系数据作为第一标准数据，所述计算机用于计算被检测的太赫兹波对该调制装置的穿透率曲线与波数的关系，并将计算结果与所述第一标准数据进行比对从而获得该被检测的太赫兹波的波长范围。
2.如权利要求1所述的太赫兹波波长检测装置，其特征在于，所述碳纳米管结构包括一碳纳米管膜，所述碳纳米管膜包括多个通过范德华力首尾相连的碳纳米管束，每一碳纳米管束包括多个相互平行的碳纳米管。
3.如权利要求1所述的太赫兹波波长检测装置，其特征在于，所述多个碳纳米管的表面包覆有金属导电层。
4.如权利要求1所述的太赫兹波波长检测装置，其特征在于，所述移动装置为抽拉装置或旋转装置。
5.如权利要求1所述的太赫兹波波长检测装置，其特征在于，所述调制装置进一步包括一支撑框架，所述碳纳米管结构的边缘固定于该支撑框架上，中间部分通过该支撑框架悬空设置。
6.如权利要求1所述的太赫兹波波长检测装置，其特征在于，进一步包括一旋转装置，所述旋转装置用于改变所述碳纳米管结构中碳纳米管的延伸方向与太赫兹波偏振方向的夹角；且所述计算机内部存储有太赫兹波对该碳纳米管结构的穿透率与波数以及所述碳纳米管结构中碳纳米管的延伸方向与太赫兹波偏振方向的夹角的关系数据作为第二标准数据。
7.如权利要求1所述的太赫兹波波长检测装置，其特征在于，进一步包括一太赫兹波可以穿透的真空容器、一加热装置以及一温度感测器，所述碳纳米管结构和温度感测器设置于该真空容器内，所述加热装置用于加热该碳纳米管结构，从而改变所述碳纳米管结构的温度；且所述计算机内部存储有太赫兹波对该碳纳米管结构的穿透率与波数以及所述碳纳米管结构的温度的关系数据作为第三标准数据。
8.如权利要求7所述的太赫兹波波长检测装置，其特征在于，所述加热装置包括两个间隔设置的电极和一太赫兹波可以穿透的加热膜，该加热膜设置于该真空容器的内壁上且与该两个电极电连接。
9.如权利要求1所述的太赫兹波波长检测装置，其特征在于，进一步包括一太赫兹波可以穿透的真空容器以及两个间隔设置于该真空容器内的电极，所述碳纳米管结构与该两个电极电连接且通过该两个电极悬空设置，所述两个电极用于向所述碳纳米管结构施加电压；且所述计算机内部存储有太赫兹波对该碳纳米管结构的穿透率与波数以及向所述碳纳米管结构施加的电压的关系数据作为第四标准数据。
10.如权利要求1-9中任意一项所述的太赫兹波波长检测装置，其特征在于，所述计算机包括一控制模块、一计算模块、一比较模块、一通讯模块以及一存储模块；所述控制模块控制整个计算机的运行；所述通讯模块用于与所述太赫兹波接收装置之间进行通讯，以获取所述太赫兹波接收装置接收到的太赫兹波的强度数据；所述存储模块内部存储有标准数据；所述计算模块根据所述通讯模块获取的强度数据计算出被检测的太赫兹波的穿透率曲线；所述比较模块通过将穿透率曲线与标准数据进行比对。
